高定向熱解石墨（HOPG）單晶片

高定向熱解石墨（highly oriented pyrolytic graphite, HOPG）是一種結晶構造良好、擇優取向性極強、石墨化程度很高的“晶體”石墨。

其制備原理是選用質量優良的細錐結構熱解石墨（pyrolytic graphite，PG）為基本原料，經過多道特殊工藝處理，再利用高溫熱壓設備經高溫高壓處理后制得。

在這種高溫高壓狀態下，PG的晶粒結構很快地發生轉化，碳原子層間的排列變得更為有序，原有的“亂層堆積”結構轉變為晶粒擇優取向性極強的排列形式，形成近似于理想石墨結構的“準晶體”。

高定向熱解石墨因其具有良好的碳原子結構，在科研、儀器制造、工業生產中作為標準樣品、關鍵部件等得到了廣泛應用，目前其主要應用包括X射線單色器、中子濾波器和單色器、石墨基本性能研究、大尺寸石墨層間化合物基本研究等。

鑲嵌度Mosaic Spread,△δ，用來描述熱解石墨多晶體晶粒（002）面沿沉積面排列分布的情況，△δ 越小，則多晶體越接近單晶，鑲嵌度是表示多晶石墨中微晶沿c軸取向性（擇優取向）程度的指標。

在片（膜、薄片）狀多晶石墨中，在（002）X射線衍射線顯示峰的位置將副斜桿(counter)（2θ軸）固定，僅旋轉試樣（θ軸）時，所得強度函數（與002衍射線峰強度的試樣方位角有關的曲線）的半寬值。

該值通常由反射法測定。

在高定向性石墨中，因碳六角網面大致平行于試樣的平面取向，鑲嵌度為數度以下，用反射法在θ=13.3°附近,強度成為最大。

例如，在高定向熱解石墨（HOPG）商品中，MS=0.3°左右，這表明垂直于HOPG表面方向的微晶c軸偏移在±0.6°以內。

在鑲嵌度測定中，X射線照射面積隨試樣（θ軸）的旋轉變化，故取向函數不一定正確，但得到的MS值若在數度以內，作為c軸取向性指標，有重要意義。